При помощи микроскопов может быть изучена не только микроскопическая структура объекта, но и его молекулярный состав. В зависимости от возможности приборов, можно говорить об использовании сканирующей или просвечивающей микроскопии. Несмотря на различные преимущества, данный вид исследования имеет свои недостатки. Они выражаются в ограниченной возможности изучения поверхности исследуемых материалов.
Какие методы исследования используются?
Для проведения диагностики, необходимо добиться хорошего качества изображения. Оно возможно только в условиях вакуума. Не стоит забывать, что образцы значительного размера не смогут быть использованы в качестве исследуемого материала. просвечивающая электронная микроскопия позволяет получить плоскостной снимок образца, а сканирующая микроскопия – объемный. В данном случае специалисты используют следующие методы:
метод применения декорирования, а также использование реплик;
лоренцовый метод исследования;
использование фазовых, а также амплитудных методов исследования.
Особенности использования декорирования, а также реплик в микроскопии
Суть исследования при помощи декорирования заключается в нанесении на образец микроскопического слоя специальных декорирующих веществ. Изучение проводится только после их оседания в области микрополей. Метод помогает изучить не только структурные особенности материала, но и микрополя.
С помощью реплик можно изучить строение поверхности образцов, имеющих большой размер. Для этого сначала проводят снятие с образца отпечатка, состоящего из тонкого слоя углерода, и только затем проводят его изучение. Данный метод подразумевает использование просвечивающей микроскопии.
Лоренцовый метод исследования
Этот вид исследования материала позволяет проанализировать, а также изучить явления, обусловленные силой Лоренца. В данном случае это относится не только к внутренним магнитным и электрическим полям. Специалистами могут быть изучены и поля внешнего рассеяния.
Особенности применения фазовых методов исследования, а также амплитудных методов
К первым можно отнести интерференционную микроскопию. Эта технология заключается в использовании призм, которые способствуют разложению электронного пучка. Метод способствует изучению электрического потенциала объекта. Для получения точных показателей производят фиксацию образца с помощью замораживания.
Для того чтобы изучить образцы, имеющие микроскопические частицы, используют амплитудные методы. Специалисты также используют их для изучения аморфных тел.
Просвечивающая электронная микроскопия помогает исследовать тонкий слой твердых тел. Появлению снимка способствует поток электронов. Непросвечивающая микроскопия используется с целью изучения образцов значительных размеров.
Sergey